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玻(bō)璃碎片曝(pù)光機
玻(bō)璃碎片曝光機本(běn)機應(yīng)用單片(piàn)機(jī)實現曝光(guāng)時間(jiān)和對開(kāi)式擋光板(bǎn)自動(dòng)控(kòng)製；具(jù)有曝光(guāng)時(shí)間可調(tiáo)，定時準確的特點；
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HZ-光(guāng)畸變(biàn)測定(dìng)儀
光畸(jī)變測(cè)定儀產(chǎn)品描(miáo)述(shù)：用來(lái)測定(dìng)安全玻璃的(dí)光(guāng)畸(jī)變。符合(hé)標(biāo)準GB9656，GB/T5137.2標準的要(yào)求(qiú)。
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中空玻璃露(lòu)點儀（半(bàn)導體(tǐ)製冷(lěng)）|中空玻璃(lí)露點儀(yí)|中(zhōng)空玻璃(lí)
ZDL-Ⅲ中空(kōng)玻璃露點(diǎn)儀采用半導體製冷(lěng)方(fāng)法是(shì)根(gēn)據國(guó)家標準(zhǔn)GB/T 11944—2002規定(dìng)的技術(shù)條(tiáo)件製造(zào)的(dí)一種儀(yí)器。用於(yú)檢測中空(kōng)玻(bō)璃試樣內表(biǎo)麵在(zài)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條(tiáo)件(jiàn)和方法情況(kuàng)下(xià)是否結露。
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表麵應力儀
SS-R表麵應(yīng)力儀(yí)按國家(jiā)標準(zhǔn)GB17841規定：鋼(gāng)化(huà)玻璃的(dí)表(biǎo)麵應力(lì)值為95Mpa以(yǐ)上，半(bàn)鋼化玻(bō)璃為24Mpa--69Mpa。美國ASTM標準(zhǔn) C1048 規定：鋼(gāng)化(huà)玻(bō)璃(lí)為(wéi)69Mpa以(yǐ)上，半鋼化(huà)玻(bō)璃(lí)為24--52Mpa。本儀(yí)器專(zhuān)門用(yòng)於測定鋼化及半(bàn)鋼(gāng)化玻璃的表麵壓應力大(dà)小(xiǎo)，能直(zhí)接在(zài)玻璃成品上檢(jiǎn)測(cè)，不破壞(huài)玻璃。
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可(kě)再(zài)生能(néng)源建築(zhù)應用測(cè)評係統(tǒng)
可再(zài)生能源建築(zhù)應用測(cè)評係統(tǒng)測評(píng)項(xiàng)目(mù)範圍(wéi)：1.太(tài)陽(yáng)能(néng)熱(rè)水(shuǐ)係統(tǒng) 2．太(tài)陽能供熱采暖係(xì)統 3．太(tài)陽能供(gōng)熱製(zhì)冷(lěng)係(xì)統 4．太(tài)陽能光(guāng)伏係統.
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驟(zhòu)冷(lěng)強化(huà)玻璃表麵應力(lì)儀(yí)
TFSM-6000H鋼化(huà)玻璃(lí)表麵應力(lì)儀是日本ORIHARA（折(zhē)原）公(gōng)司生產(chǎn)的用(yòng)於(yú)測量(liáng)化學強(qiáng)化(huà)和(hé)物理強化玻(bō)璃表(biǎo)麵應力的檢(jiǎn)測(cè)設備。其(qí)利(lì)用光在(zài)強(qiáng)化(huà)玻(bō)璃(lí)表麵的強化層內產(chǎn)生的(dí)光彈(dàn)性效應(yīng)來(lái)進(jìn)行玻(bō)璃(lí)表麵(miàn)應力(lì)大小以(yǐ)及深度的(dí)測量。
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中空(kōng)玻璃露點測(cè)試(shì)儀(yí)（現(xiàn)場檢測(cè)）
ZDX-III型中(zhōng)空(kōng)玻(bō)璃(lí)露點測(cè)試(shì)儀是我公司(sī)研(yán)製開(kāi)發(fā)的第三(sān)代產品(pǐn)，較前幾(jī)代產(chǎn)品具有(yǒu)體(tǐ)積(jī)小(xiǎo)，重量(liáng)輕，無噪(zào)音，操(cāo)作方(fāng)便等特點，更適(shì)合於(yú)現場，車間，整(zhěng)窗(chuāng)中空(kōng)玻(bō)璃露點(diǎn)試驗(yàn)。
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中(zhōng)空玻璃露(lòu)點(diǎn)儀|中(zhōng)空玻璃檢測儀(yí)|露點(diǎn)儀
我公司(sī)成功(gōng)開(kāi)發出ZDL-III電(diàn)子(zǐ)製(zhì)冷式露點(diǎn)儀，積(jī)極響(xiǎng)應國(guó)家(jiā)節能(néng)減排號(hào)召(zhào)，將(jiāng)先(xiān)進的製(zhì)冷技(jì)術應用於新(xīn)型檢(jiǎn)測儀(yí)器係統中(zhōng)，直接減少二(èr)氧(yǎng)化(huà)碳(tàn)使用(yòng)和排放量，我(wǒ)公(gōng)司成功開發(fā)出(chū)ZDL-Ⅲ型(xíng)電子製冷式露點儀。
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中空玻(bō)璃露點(diǎn)測試(shì)儀（半導體製冷）
中空(kōng)玻(bō)璃露點(diǎn)儀的產品說(shuō)明(míng)：ZDX-III中空玻(bō)璃露點(diǎn)測(cè)試(shì)儀(yí)采(cǎi)用國外科(kē)技(jì)成果(guǒ)——半導(dǎo)體“深冷(lěng)”技(jì)術，以(yǐ)組合電子(zǐ)製(zhì)冷+製(zhì)冷(lěng)機組製(zhì)冷的方式，取(qǔ)代了(liǎo)以(yǐ)前同類產品采(cǎi)用(yòng)的人工(gōng)加(jiā)入(rù)幹冰或者液(yè)氮的的製(zhì)冷(lěng)方(fāng)式。
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